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YESTech在2007年国际微电子与封装协会展上展出下一代自动光学检测仪

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  电子行业自动检测与增产系统供应商YESTech将在于加州圣何塞举行的2007年国际微电子与封装协会展(IMAPS 2007)第324号展台上展出其新型YTV M1m自动光学检测仪。

  下一代M1自动光学检测系统基于YESTech的专利机器视觉软件,它提供同类领先的性能及其极其迅速和简易的程序开发手段。强大的创新型检测运算法则,可轻松识别所有的可视构件、铅和不规则焊料。YESTech的300万像素高级薄型相机(TM)和新型"融合照明"(TM)技术,创造了惊人的缺陷覆盖率和极低的报错率。它成为了当今生产工艺减少成本、提高质量和扩大产量的必备工具。

  M1具有小足迹和板操作系统,专为最大程度地提高灵活性而设计,并能够迅速适应回流前后检测以及大量返工与数据跟踪情景。M1聚焦应对自动光学检测设备制造商面临的严峻挑战,并重点开发新产品,对含01005元件的装配进行精确检测。

  M1m的编程既迅速又直观。通过输入计算机辅助设计(CAD)数据,用户可在不到一个小时的时间里制成一份完整的方案。离线编程系统使工程师能够在任意远程位置开发完整方案,并不影响生产。

  YESTech总裁Don Miller说:"很高兴能参加今年的国际微电子与封装协会展,并展示我们最新的自动光学检测创新。YTV M1m在行业中是独一无二的,它为高要求的微电子应用提供了最新技术。"

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